概况介绍：
MB WIN475系统是以MB准振动台，结合的振动信号测量控制技术而推出的振动传感器校准系统。

目前MB WIN475系统主要包括：基本系统、通频校准子系统CAL50、高频校准子系统CAL25HF、低频振动子系统CAL2、横向灵敏度校准子系统TS-System、高低温校准子系统HLT-System、冲击校准子系统Shock-System。

上图中展示了高频校准系统所需的所有组件
基本系统：
-   基本系统包括信号调理模块405-X、数采、电脑和软件。

通频校准子系统：
-   MB公司推出超过10年的通频校准台
-   适用于1Hz到10kHz内振动传感器的校准
-   在MB500VI功放的驱动下，****输出力可达225N
-   其行程能达到25毫米
-   根据校准要求专业设计，标准传感器安装在台体内专用夹具下方，振动传递特性****，大幅度改善了高频特性
-   台体中空，标准传感器信号线从台体底部引出
-   校准台面较大，承载能力大，配套功放功率为500瓦，推力大，适用于较大试件。

CAL50通频校准台

高频校准台子系统：
-   适用于1Hz到20kHz甚至30kHz频段的振动传感器特性校准
-   ****行程（止点间距离）达13mm峰峰值
-   待测件****重量：≤910克
-   待测传感器安装螺纹：10-32规格
-   载荷自动对中（气动方式）
-   校准台面直径74mm，可校准传感器的****直径达70mm
-   由于采用空气轴承，轴向波形失真度大幅缩小
-   将铍合金高刚度运动组件与高径向支撑刚度的空气轴承结合起来，给传感器特性校准带来一些不同以往的功能，比如，CAL25HF内置的标准传感器是可以由用户方便地替换的，这样用户可以使用多只不同型号的振动标准传感器

CAL25HF高频校准台

低频振动子系统：
-   首先是行程达300毫米，甚至更高，与150毫米行程的振动台相比，同样的频率下可以产生2倍大的加速度，将传感器在振动台上输出的信号信噪比提高了100%。
-   由于采用直线电机作核心部件，使其天然具有高精度位移测量的功能，克服了采用APS振动台作低频标定时到达要求量级振动的稳定时间比较长的弊端，使低频标定时所需时间大幅度缩短，提高了试验效率。

CAL2-300V低频校准台
横向灵敏度校准子系统
-    测试过程中自动调整测试角度、自动采集数据，无需任何人为干预
-    横向灵敏度校准频带：30Hz到2000Hz
-    基于名义灵敏度的百分比标称横向灵敏度，并给出****横向灵敏度所在的角度
-    绘制出横向灵敏度应的幅频图，并针对每个测试频率点绘制出“8”字指向性图
-    测试完成后，自动将****横向灵敏度所在位置调整至最高点，便于测试人员标记

横向校准台

横向校准夹具

高低温校准子系统
-   可测温度范围：-185℃到+800℃，且温度可程控
-    在160Hz处的，传感器灵敏度随温度变化的重复性极高
-    系统软件通过热电偶自动读取温度仓内温度，通过控制加热单元和液氮阀门使仓内温度达到预设值
-    系统软件可设置温度目标值、温度变化速度以及定温驻留时间长度
-    一旦温度仓内温度达到预设值，激振器开始工作，系统开始采集数据并计算灵敏度
-    软件带有自动警告和报警功能，以消除不当操作
-    温度控制精度：±1℃
-    温度仓尺寸：直径200mm x 长600mm
-    激振单元： CALEnergizer RED
-    160Hz处加速度值≤3 gRMS，

高低温校准台

冲击校准子系统
-    结合Model405-X信号调理，该校准台可用于测试电荷型、IEPE型、电压型、压阻型和MEMS行加速度传感器
-    用户可自选量程，包括500g Pk、1000g Pk、2000g Pk和5000g Pk，针对50克的待测传感器，****可实现4000g的冲击加速度
-    冲击时间宽度：0.06-0.15ms
-    冲击脉冲的重复性好，<± 5%
-    不确定度<± 5%
-    冲击重复速度：每10秒钟1个脉冲
-    可对2次、4次货8次冲击测试的结果进行平均，以消除统计误差和随机误差
-    占地面积小、集成度高
-    校准台尺寸：240mm x 190mm x 560mm

冲击校准台