概况介绍:
MB WIN475系统是以MB准振动台,结合的振动信号测量控制技术而推出的振动传感器校准系统。
目前MB WIN475系统主要包括:基本系统、通频校准子系统CAL50、高频校准子系统CAL25HF、低频振动子系统CAL2、横向灵敏度校准子系统TS-System、高低温校准子系统HLT-System、冲击校准子系统Shock-System。
上图中展示了高频校准系统所需的所有组件
基本系统:
- 基本系统包括信号调理模块405-X、数采、电脑和软件。
通频校准子系统:
- MB公司推出超过10年的通频校准台
- 适用于1Hz到10kHz内振动传感器的校准
- 在MB500VI功放的驱动下,****输出力可达225N
- 其行程能达到25毫米
- 根据校准要求专业设计,标准传感器安装在台体内专用夹具下方,振动传递特性****,大幅度改善了高频特性
- 台体中空,标准传感器信号线从台体底部引出
- 校准台面较大,承载能力大,配套功放功率为500瓦,推力大,适用于较大试件。
CAL50通频校准台
高频校准台子系统:
- 适用于1Hz到20kHz甚至30kHz频段的振动传感器特性校准
- ****行程(止点间距离)达13mm峰峰值
- 待测件****重量:≤910克
- 待测传感器安装螺纹:10-32规格
- 载荷自动对中(气动方式)
- 校准台面直径74mm,可校准传感器的****直径达70mm
- 由于采用空气轴承,轴向波形失真度大幅缩小
- 将铍合金高刚度运动组件与高径向支撑刚度的空气轴承结合起来,给传感器特性校准带来一些不同以往的功能,比如,CAL25HF内置的标准传感器是可以由用户方便地替换的,这样用户可以使用多只不同型号的振动标准传感器
CAL25HF高频校准台
低频振动子系统:
- 首先是行程达300毫米,甚至更高,与150毫米行程的振动台相比,同样的频率下可以产生2倍大的加速度,将传感器在振动台上输出的信号信噪比提高了100%。
- 由于采用直线电机作核心部件,使其天然具有高精度位移测量的功能,克服了采用APS振动台作低频标定时到达要求量级振动的稳定时间比较长的弊端,使低频标定时所需时间大幅度缩短,提高了试验效率。
CAL2-300V低频校准台
横向灵敏度校准子系统
- 测试过程中自动调整测试角度、自动采集数据,无需任何人为干预
- 横向灵敏度校准频带:30Hz到2000Hz
- 基于名义灵敏度的百分比标称横向灵敏度,并给出****横向灵敏度所在的角度
- 绘制出横向灵敏度应的幅频图,并针对每个测试频率点绘制出“8”字指向性图
- 测试完成后,自动将****横向灵敏度所在位置调整至最高点,便于测试人员标记
横向校准台
横向校准夹具
高低温校准子系统
- 可测温度范围:-185℃到+800℃,且温度可程控
- 在160Hz处的,传感器灵敏度随温度变化的重复性极高
- 系统软件通过热电偶自动读取温度仓内温度,通过控制加热单元和液氮阀门使仓内温度达到预设值
- 系统软件可设置温度目标值、温度变化速度以及定温驻留时间长度
- 一旦温度仓内温度达到预设值,激振器开始工作,系统开始采集数据并计算灵敏度
- 软件带有自动警告和报警功能,以消除不当操作
- 温度控制精度:±1℃
- 温度仓尺寸:直径200mm x 长600mm
- 激振单元: CALEnergizer RED
- 160Hz处加速度值≤3 gRMS,
高低温校准台
冲击校准子系统
- 结合Model405-X信号调理,该校准台可用于测试电荷型、IEPE型、电压型、压阻型和MEMS行加速度传感器
- 用户可自选量程,包括500g Pk、1000g Pk、2000g Pk和5000g Pk,针对50克的待测传感器,****可实现4000g的冲击加速度
- 冲击时间宽度:0.06-0.15ms
- 冲击脉冲的重复性好,<± 5%
- 不确定度<± 5%
- 冲击重复速度:每10秒钟1个脉冲
- 可对2次、4次货8次冲击测试的结果进行平均,以消除统计误差和随机误差
- 占地面积小、集成度高
- 校准台尺寸:240mm x 190mm x 560mm
冲击校准台